組込み試験

Built In Test

組込み試験(BIT)は、与えられた程度までの自己試験を可能とするため品目に備え付けられる。
通常、3つの型のBITが装備される:
- パワーオンBIT(P-BIT)は、品目の作動開始時に実行される
- 継続BIT(C-BIT)は、運用員の介在無しで、品目の運用中に繰り返しそして自動的に実行される
- 開始(イニシエート)BIT(I-BIT)は、運用者又は整備チームからの命令に基づき実行される
これら試験の各型は、規定されたカテゴリの故障探知する。
かれらは次に特徴付けられる:
- 故障探知された機能又は品目の百分率を与える探知
- 識別された交換可能ユニットの故障の曖昧性のない探知故障の百分率を与える局所化及び分離率
- 誤警報率
組込み試験は、次をしそう:
- 故障探知
- 故障した交換可能ユニットの局所化
局所化は次が可能:
- 曖昧さは、1個の交換可能部品ではなく、故障が交換可能部品グループ内に局所化されたことを意味する
- 非曖昧は、許容可能な確度で、故障した品目が識別され局所化されることを意味する
曖昧さの取り除きが、障害探索解析のゴールである。
警報とシグナルの観点から、BIT結果は警報〔表示によるもの〕又はアラーム〔音によるもの〕(それらは通常致命的故障の場合)を通じて運用者に合図出来る。

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